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簡要描述:手(shou)(shou)持式野(ye)外礦石分(fen)(fen)析(xi)儀(yi) 巖石化學成(cheng)分(fen)(fen)快(kuai)速(su)Vanta手(shou)(shou)持式XRF分(fen)(fen)析(xi)儀(yi)系列是我公司新近(jin)推出的(de)一款性能強大的(de)手(shou)(shou)持式XRF設備,可(ke)以為那些要求在野(ye)外環境獲得精準分(fen)(fen)析(xi)水平的(de)用戶,進(jin)行快(kuai)速(su)精確的(de)元素分(fen)(fen)析(xi)。分(fen)(fen)析(xi)儀(yi)的(de)機身非(fei)常(chang)堅固,符合IP55或IP54評級標(biao)準,通過了墜(zhui)落測(ce)試,可(ke)以正常(chang)運(yun)行更長的(de)時間,而且(qie)其擁有成(cheng)本(ben)較低。
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品牌 | OLYMPUS/奧林巴斯 | 價格區間 | 15萬-20萬 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 石油,地礦,能源,電子,綜合 |
手持式野外礦石分析儀 巖石化學成分快速
Vanta手(shou)持(chi)式XRF分析(xi)儀(yi)系(xi)列(lie)是我(wo)公司新近推出(chu)的(de)一款性能強大的(de)手(shou)持(chi)式XRF設備(bei),可(ke)以(yi)為那些(xie)要求在野(ye)外環(huan)境獲得精(jing)準分析(xi)水平的(de)用戶,進行(xing)快速精(jing)確的(de)元素分析(xi)。分析(xi)儀(yi)的(de)機(ji)身非常(chang)堅固(gu),符(fu)合IP55或IP54評級標(biao)準,通過(guo)了墜落測試,可(ke)以(yi)正常(chang)運行(xing)更長的(de)時間,而(er)且其擁有成本較低。
Vanta手(shou)持(chi)式XRF分析儀可為一系列(lie)采礦和(he)地球化學應用(yong)在(zai)現場進行即時(shi)元素測量,而且在(zai)礦產資(zi)源的(de)整個開發(fa)周期中,都具(ju)有很大的(de)靈活性。
綠色(se)地帶(dai)和(he)棕色(se)地帶(dai)的(de)勘(kan)探。
礦石品位和過(guo)程控制。
環境(jing)監測和修復 / 礦區關閉(bi)。
在地(di)質(zhi)/環境科學(xue)領域中的學(xue)術/教(jiao)育研究和(he)教(jiao)學(xue)。
與傳(chuan)統(tong)的實驗室技術相比,Vanta分(fen)析儀可(ke)以更快地(di)提(ti)供有助于正(zheng)確決策的地(di)球化學數據,使用(yong)戶迅速獲得投(tou)資回報(ROI)。在勘(kan)探(tan)階段快速做出正(zheng)確的決策,可(ke)以更有效地(di)使用(yong)野外工(gong)作時間,更合理(li)地(di)安排勘(kan)探(tan)預算經(jing)費(fei),推進項目的時間進度。
用于采礦和地球化學的Vanta分(fen)析儀(yi)裝有與工業專家合作(zuo)研發的軟件,并(bing)具有以下特性:
集成式GPS為勘探和(he)環境樣(yang)本提供地理參考位置信息。
通過無線局域網和藍牙實現的 連通性可(ke)實時向(xiang)基(ji)地發送結果,并將數(shu)據無縫整合到第三方軟件(jian)程序中。可(ke)以應用云技術(shu)。
機載光譜查看功(gong)能,可快(kuai)速(su)分(fen)辨(bian)光譜重疊。
手持式野外礦石分析儀 巖石化學成分快速
在各種采(cai)礦和地球化學應(ying)用中,Vanta手持式XRF分(fen)析(xi)儀可以在現場(chang)即時提(ti)供元素(su)測量(liang)值(zhi),對各種礦床類型進行(xing)分(fen)析(xi)。
對(dui)于電子設備來說,礦場和室外環境可(ke)謂艱苦,設備一旦出現故(gu)障,會使用(yong)戶(hu)損失時間和金(jin)錢(qian)。Vanta分析儀是一款堅固(gu)耐(nai)用(yong)的(de)設備,可(ke)以正常(chang)運行更(geng)長(chang)的(de)時間,而且(qie)其(qi)擁有成本不高。
每臺Vanta手持式XRF分析儀都符合IP55評級標準,可以抵御雨水、污垢、灰塵的侵襲,都通過了美國國防部標準(MIL-STD-810G)中的墜落測試,有助于防止分析儀出現破損的情況,避免用戶支付昂貴的修理費用。*
Vanta分析儀可以承受的溫度范圍為-10 °C到50 °C。因此即使在炎熱的環境中,您也只需花費不長的時間等待分析儀冷卻。**配備有硅漂移探測器的分析儀型號中裝有探測器快門閘保護,可避免分析儀受到穿孔損傷,因此您可以放心地對粗糙的表面進行分析。
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