xrd衍射儀是通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。
xrd衍射儀一款重量很輕、便于攜帶，且幾乎無需維護的儀器。xrd衍射儀可以解決的問題有：
1、當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
2、很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
3、新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。
4、產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。
5、納米材料由(you)于顆粒(li)(li)細小(xiao),極易(yi)形成(cheng)團粒(li)(li),采用通常的粒(li)(li)度分析儀往(wang)往(wang)會給(gei)出錯(cuo)誤的數據。采用X射(she)線(xian)(xian)衍射(she)線(xian)(xian)線(xian)(xian)寬法可以測(ce)定納米粒(li)(li)子的平(ping)均粒(li)(li)徑(jing)。
